BHW-78低频介电常数介质损耗测试仪
BHW-78低频介电常数介质损耗测试仪依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。
BHW-78低频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由测试装置（夹具）、介电常数测试主机组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。
主要参数
工作频率范围:20Hz～1MHz
精度：±0.01%
电容测量范围:0.00001pF～9.99999F
六位数显
电容测量基本误差:±0.05%
介质损耗范围:0.00001～9.99999
介电常数范围/精度:1～10000/±2%
